Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния света) на данный момент является наиболее эффективным способом определения количества слоев графена без разрушения его кристаллической решетки.
Метод Рамановской спектроскопии позволяет определять количество слоев графена на основании отношения интенсивностей G и 2D пиков — двух хорошо исследованных и характерных пиков в Рамановском спектре графена. Сканирование подложки, на которой формируется графен, позволяет визуализацию поверхности подложки и построение ее карты в зависимости от интенсивности Рамановских линий графена в каждой точке.
Приборы EnSpectr позволяют делать глубокий анализ структуры и свойств любых углеродных материалов: углеродных нанотрубок, графена, наноалмазов, углеродных луковиц, нанографита и др.
Определение степени деффектности, рамановское картирование с разрешением близким к конфокальному — все это возможно со спектрометрами EnSpectr. По цене в несколько раз меньше, чем у зарубежных аналогов.
Размер типичного флейка графена – всего около 5 микрон (речь идет о графене, полученном в лабораторных условиях, методом расщепления природного графита), и самый простой способ найти почти прозрачные флейки и отличить монослой от двухслойного образования состоит в создании Рамановской карты (мэппинг). Для качественного мэппинга требуется специальное, отвечающее специфичным требованиям, оборудование. Раман микроскоп М532 от нашей компании оснащённый моторизованной подвижкой подойдёт для этой задачи.
Исследование графена, графита и углеродных нанотрубок
Все приборы внесены в Государственный реестр средств измерений РФ.